Comparaisons de principe : les gains dépendent des données, des procédés, du périmètre d’intégration et des usages.
Smart3 · Capacités
Une plateforme logicielle. Des capacités qui se combinent.
Smart3 combine vos données et vos capacités d’analyse dans un même environnement : métrologie, inspection, simulation et optimisation se complètent pour comprendre vos matériaux et vos procédés.
Extraire des mesures et caractériser vos structures à partir de données multi-sources.
Inspection & analyse des défauts
Détecter, segmenter et classer les défauts selon votre contexte métier.
Simulation & optimisation de procédé
Relier données expérimentales, paramètres de fabrication et modèles physiques pour guider les décisions.
Smart3 · Personnalisation en langage naturel
Votre expertise devient un workflow. Sans écrire de code.
Décrivez votre besoin en langage naturel. Avec le LLM et le contexte documentaire apporté par le RAG, créez vos lecteurs de données et combinez vos plugins dans Smart3.
Simulation et données réelles. Une boucle pour progresser.
La simulation prend tout son sens lorsqu’elle est confrontée au réel. Smart3 connecte les outils de simulation aux données de caractérisation pour comparer les résultats, ajuster les modèles et orienter les prochaines expériences.
Exemple illustré : gravure plasma — de la simulation aux images de coupe SEM/TEM et aux mesures dans Smart3. Cette boucle s’applique aussi à d’autres procédés, substrats, composants et matériaux.
Définir les objectifs, facteurs et conditions à explorer.
02
Procédé
Réaliser les essais avec les recettes et paramètres sélectionnés.
03
Caractérisation
Mesurer les structures, matériaux et défauts : SEM, TEM, AFM et autres sources.
04
Résultats & analyse
Relier mesures et paramètres, comparer les performances et analyser les écarts.
05
Simulation & décision
Confronter le modèle au réel, explorer les scénarios et guider le prochain DOE.
↺
Retour au DOE : chaque cycle enrichit les modèles et aide à choisir les prochaines expériences. Smart3 relie les données et les outils au fil de cette boucle.
Améliorer les rendements
Relier les mesures aux paramètres pour identifier les leviers de performance.
Accélérer le développement
Mieux cibler les essais et rapprocher simulation et données expérimentales.
Réduire les coûts de fabrication
Automatiser l’analyse et mieux exploiter les données pour guider les décisions.
Votre parcours avec Pollen
Du premier cas d’usage au déploiement.
LEARNPollen Academy1–3 jours
Former vos équipes et explorer vos données.
DISCOVER2–3 mois
Évaluer la faisabilité d’un cas d’usage.
EXPLORE6 mois
Développer et valider votre application.
DEPLOY12 mois
Intégrer et déployer en production.
TRANSFORMEn continu
Étendre les usages et améliorer en continu.
Travailler avec Pollen
Un modèle transparent, adapté à vos usages.
Commencez sur une application concrète, puis faites évoluer Smart3 avec vos besoins. Votre proposition distingue clairement les licences et les services, avec un périmètre et des coûts définis ensemble.
Des licences dimensionnées pour votre déploiement
Selon le nombre de licences et leur utilisation : équipes R&D, sites de production ou intégration dans vos équipements.
Le niveau de service dont vous avez besoin
Formation, accompagnement et développements spécifiques : nous adaptons notre intervention à vos ressources et à vos objectifs d’autonomie.
Une évolution progressive et maîtrisée
Du premier projet au déploiement à plus grande échelle, vous disposez d’une visibilité sur les coûts de chaque étape.
Nos partenaires locaux
Un accompagnement au plus près de vous.
Japon
Keisoku Engineering System Co., Ltd.
Votre interlocuteur local au Japon pour échanger sur Smart3 et vos applications.
Du développement des procédés au suivi de production : exploitez vos données de métrologie et d’inspection.
Packaging avancé
Analysez les structures, interconnexions et défauts. Reliez vos données de caractérisation aux paramètres de fabrication.
Displays & photonique
Caractérisez les microLED et les structures optiques. Rapprochez mesures et simulation.
Matériaux innovants
Construisez des workflows d’analyse pour comprendre les relations entre structure, propriétés et procédé.
Smart3
Dans votre fab
Connecter les données, analyser et guider les décisions de procédé.
↕
Smart3 Data · AI · Workflows · SDK
↕
Smart3
Dans votre équipement
Intégrer vos algorithmes et enrichir les capacités de vos outils.
Smart3 · OEM & SDK
Une plateforme. Deux modes d’intégration.
Gagnez des années de développement logiciel.
Fabs, fabless et équipementiers : développez vos applications métier sur Smart3 en vous appuyant sur une plateforme ouverte, personnalisable et unifiée.
Capitalisez sur dix années de développement du cœur technologique pour intégrer vos données, vos algorithmes et vos workflows, tout en conservant votre savoir-faire et votre différenciation.
Une même plateforme, de la R&D à la production.
Harmonisez vos outils et vos méthodes entre équipes, instruments et sites.
Concentrez vos ressources sur votre valeur ajoutée.
Consacrez vos efforts à la science des données, aux procédés et aux applications qui font votre différence.
Réduisez le coût de votre infrastructure logicielle.
Limitez les développements transverses et la maintenance d’un socle propriétaire grâce à une base logicielle commune, maintenue et enrichie par Pollen.
Déploiement sur site, dans votre environnement.
En fab ou intégré à un équipement, Smart3 s’installe sur votre infrastructure. La confidentialité de vos données reste au cœur de chaque déploiement.
Des économies qui vont au-delà du temps gagné : développement du socle, maintenance, tests et infrastructure logicielle sont mutualisés pour réduire votre coût total sur la durée.
Qui sommes-nous
La science des données. La réalité de l’industrie.
Fondée à Grenoble en 2014 et basée à Moirans depuis 2015, Pollen est née des quinze années de recherche de son fondateur, Johann Foucher, au CNRS et au CEA, en physique des plasmas appliquée à la gravure des semi-conducteurs et en métrologie avancée.
Une conviction guide Smart3 : comprendre les procédés exige de relier les données et de rendre les analyses personnalisables. Notre plateforme logicielle ouverte associe données expérimentales, expertise métier et simulation dans une vision globale des procédés.
D’une vision scientifique à une expertise collective.
De 2015 à 2024, dix années de développement ont bâti le cœur de Smart3 et une équipe pluridisciplinaire : logiciel, IA, traitement du signal, semi-conducteurs, caractérisation des matériaux, physique et chimie.
Aujourd’hui, cette expertise collective se traduit en applications concrètes auprès de nos clients industriels et équipementiers aux États-Unis, en Europe et en Asie, de la R&D à la production.
Les 14 et 15 octobre 2026 à Alpexpo, Pollen présentait ses métiers, Smart3 et ses opportunités de recrutement et de stages sur le stand N3 de l’OPCO Atlas.
Des données du packaging aux décisions opérationnelles
Pollen aux 3es Journées Nationales du Packaging, les 13 et 14 octobre 2026 au CEA-Leti à Grenoble. Richard Fontanges y présentait comment Smart3 relie images, mesures, données de procédé et défauts pour guider les décisions des ingénieurs.
GT CICERIF : faire avancer une électronique durable
Retour sur la journée de travail du GT CICERIF chez Valeo, consacrée notamment au projet FALAISE — Failure AI for Sustainable Electronics. Une initiative collective de la Fédération de l’Électronique Française autour de l’innovation et de l’électronique durable.
Une équipe, une ambition et un cap franchi ensemble
Une journée en montagne pour célébrer une nouvelle étape de Pollen et remercier l’équipe, les clients et les partenaires. Au programme : randonnée, déjeuner à Altitude 2000 et un moment partagé autour de ce qui rend l’aventure possible — la confiance, la passion et le collectif.
PESM 2026 : relier simulation plasma et procédés réels avec STMicroelectronics
Présentés par Julien Baderot à Grenoble, les travaux collaboratifs Pollen–STMicroelectronics sur les grilles FDSOI associent métrologie TEM automatisée par IA, jumeaux numériques et optimisation multiobjectif de la gravure plasma pour accélérer l’identification des fenêtres de procédé.
Six publications à découvrir et un regard extérieur sur Pollen. Métrologie, analyse des défauts, plateformes ouvertes et optimisation des procédés : des travaux ancrés dans les applications industrielles.
SemiWiki2026
À la une · SemiWiki
Dix ans de développement, une plateforme IA déployée dans l’industrie
Lauro Rizzatti revient sur la construction de Smart3 et son rôle pour relier données, équipements et expertise dans les semi-conducteurs et les matériaux avancés.
Metrospection: holistic AI-driven process control software platform dedicated to metrology and defectivity for patterning process at die and wafer levels
Auteurs
Julien Baderot, Ali Hallal, Martin Jacob, Sergio Martinez, Johann Foucher (Pollen)
Publication / conférence
39th European Mask and Lithography Conference (EMLC 2024), Proc. SPIE 13273, 132731J
SPIE · 2026Publié
Plateforme ouverte et jumeau numérique
Relier nettoyage des données, modélisation et optimisation des procédés, avec la possibilité d’intégrer ses propres algorithmes.
Open collaborative AI platform to support process optimization for semiconductor industry with digital twin
Auteurs
Julien Baderot, Marion Grould, Ali Hallal, Johann Foucher (Pollen)
Publication / conférence
SPIE Advanced Lithography + Patterning 2026, DTCO and Computational Patterning V (Proc. SPIE)
PESM · 2026Résumé et présentation de conférence
STMicroelectronics
Augmented Engineer : simulation plasma et données réelles
Une couche IA sans code pour aider l’ingénieur à confronter simulation et données de procédé et à explorer les compromis d’optimisation, avec STMicroelectronics.
Scalable and adaptable structural metrology for AR/VR device images based on deep learning
Auteurs
Subhei Shaar, Maclean Harned, Bo Zhao, Kundan Chaudhary, Raja Muthinti (Meta); Ali Hallal, Martin Jacob, Julien Baderot, Sergio Martinez, Johann Foucher (Pollen)
Publication / conférence
SPIE Photomask Technology 2024, Proc. SPIE 13216, 132161H
JVST B · 2022Article de revue
Métrologie automatique SEM/TEM par deep learning
Les fondements de la métrologie IA de Pollen : annotation, détection, segmentation et mesures à partir d’exemples fournis par l’utilisateur.